仪器型号:ZSX Primus
设备简介:
X射线荧光光谱仪(XRF)是用高能量X射线击材料时激发出的次级X射线。通过对激发出的特征x射线强度和谱峰位置进行测量从而获得物质中的元素成分信息,它是一种非破坏式表面的测量方法。
技术指标:
利用铑作为阳极材料
最大功率为4Kw(60Kv*150mA)
可测量元素从F到U
测角精度小于0.001度/2θ
真空度小于13pa
主要功能:
用高能量X射线击材料时激发出的次级X射线,通过对激发出的特征x射线强度和谱峰位置进行测量
管 理 员:王奕云
联系方式:021-3919-4077
邮 箱:wangyiyun@sinap.ac.cn