仪器型号:LEO 1530VP
设备简介:
主要用于分析材料的显微结构及成分
技术指标:
二次电子像最高分辨率:在15KV, WD=2mm,达到1.0nm。
放大倍数 :12x ~ 2,000,000x
电子枪: 热场发射
样品电流: 5pA ~ 20nA
加速电压: 0.05kV ~ 30kV
主要功能:
二次电子像:高分辨率的样品表面形貌成像
背散射电子像:表面形貌成像 原子序数衬度成像
电子背散射衍射:电子通道花样 晶体取向 位向差分析 织构分析 相鉴定
能谱分析:材料微区成分元素种类与含量分析
应用领域:
材料、生物、矿石等
管理员:何绥霞
联系方式:021-39194775/4753
邮箱:hesuixia@sinap.ac.cn