仪器名称：宽能区台式X射线吸收谱仪
仪器型号：SuperXAFS-H2000
设备简介：
本设备是一台基于X射线吸收精细结构（XAFS）原理的台式分析仪器，可对样品中元素的化学价态、配位原子种类、键长、配位数及无序度等局域原子结构信息进行精准解析。该仪器适用于制氢材料、催化剂、电池电极、纳米功能材料等体系在真实工况下的结构演变研究，支持常规测试及原位变温、反应气氛等多种复杂条件下的动态表征，可有效支撑从基础研究到产品开发的材料构效关系解析需求。
技术指标：
能量范围：2-18keV
能量分辨率：1.5eV@7.7keV
光子强度：1×106cps
主要功能：
对样品进行X射线吸收精细结构（XAFS）光谱分析，获取样品中元素的氧化态、配位环境、局域原子结构等化学信息。适用于材料科学、化学催化、环境科学、能源材料等领域的电子结构与局域几何结构表征。
应用领域：
催化材料（多相催化、电催化、光催化）、能源材料（电池、燃料电池）、纳米材料、环境污染物形态分析、地质矿物、生物无机化学等。
管 理 员：尤欣
联系方式：13693119836
邮 箱：youxin@sinap.ac.cn
