仪器型号：Multimode-8
设备简介：
原子力显微镜为纳米级检测表征仪器，AFM(multimode VIII)为最新型号，具备多种新功能，是目前最先进的系统，具有系统稳定、热漂移小、分辨率高、质量可靠、软件功能强大、易用等特点，可高速，高通量获取所需信息包括电学、磁学、弹性、粘滞性以及样品形貌等特征。
技术指标：
1. 显微镜：多种可选Multimode SPM扫描头
AS-12系列：横向(X-Y)范围10µm×10µm,竖直(Z)范围2.5µm
AS-130系列：横向(X-Y)范围125µm×125µm,竖直(Z)范围5.0µm
PF50：横向(X-Y)范围40µm×40µm,竖直(Z)范围20µm
2. 噪声：垂直(Z)方向上的RMS值≤ 0.3埃 （带防震系统的测量值）
3. 低热飘移水平，0.2nm/Min （测试原子像扫描可取5000×5000点扫描，扫描速度低于1Hz，
扫描范围小于20nm）
4. 分辨率 可持续稳定得到原子级分辨率 (以对云母，石墨原子像成像表征)
主要功能：
Contact AFM(接触模式原子力显微镜)；2) Tapping AFM(轻敲模式原子力显微镜)；3) Tapping and contact AFM in liquid(密封液体池中的轻敲模式和接触模式原子力显微镜)；4）MFM(磁力显微镜)；5) STM；6)力学测量。
应用领域：
1.材料表面原子、分子纳米级结构研究；2. 生物大分子结构研究(DNA，蛋白质等)； 3.纳米级的刻蚀及表面修饰；4. 纳米水平的材料硬度、损伤等力学性质测量；5. 磁力显微镜功能，可以测量微区的磁学性质。6. 电化学环境下表面原子、分子级结构测量；7. 集成电路表面缺陷、光盘质量检测
管 理 员：黄一波
联系方式：021-59552394
邮 箱：huangyibo@sinap.ac.cn
