仪器型号： Nanofilm_EP4SE

设备简介：

实现对超薄膜的实时可视化分析测试，可实时看到样品围观尺度上的结构。

技术指标：

1、椭偏仪类型：PCSA（偏光镜-补偿镜-样品-分析镜）架构自动消光型成像椭圆偏振仪

2、成像光学系统：10倍物镜（图像宽度400μm，横向分辨率2μm）

3、自动转角仪：入射角范围38°-39°；角度分辨率：0.001°；绝对角精度：0.01°；

                    转动速度：~5°/秒

4、Z轴自动升降系统：行程：12cm；可重复性：1μm；分辨率：0.5μm

5、探测器相机：1392x1040像素；12位；最高40帧/秒

6、样品对准传感器：倾转轴精度0.001°；Z轴对准分辨率1μm

主要功能：

1、可测量诸如薄膜厚度、折射率和吸收系数等参数；

2、可对薄膜进行区域化（选区）分析，获得所选区域的成像分析图；

应用领域：

1.石墨烯：可对各种基板 /材料上的石墨烯进行可视化椭偏分析，实现薄膜厚度和光学性质测量

2.自组装单分子层：实现不同链长、头部基团或不同密度横向图案的自组装单分子层可视化椭偏

   分析，可实现多区域不同厚度的自组装单分子层的并行椭偏分析。

3.单分子层：可实现浮动单分子层或生长的薄膜的全聚焦实时视频图像椭偏分析；可对域的纹理、

   结构和各向异性进行分析，可实现纳米尺度单分子层厚度的测量。

4.蛋白质-蛋白质相互作用：可实现蛋白质结合的动力学测量，可以对视场范围内的所有的蛋白

   质点样做并行测量分析。

管  理 员：沈蓉芳

联系方式：021-39194080 / 15902132894

邮      箱：shenrongfang@sinap.ac.cn